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Fix sd/etcd and sd/etcdv3 integration test flakes

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#882 创建于 2019年6月6日

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描述

The sd/etcd and sd/etcdv3 integration tests are extremely flaky. I can generally expect them to trigger build failures on every PR. Here is one example.

I am going to disable those tests until they can be fixed. This issue is a plea for help from the community to fix them.

贡献者指南

研究方向
检查失败的etcd集成测试，重现不稳定问题，并修复潜在的竞态条件或时间问题。
技术栈
go
领域
backend
议题类型
测试
难度面向新贡献者的预计实现难度，1 表示很小改动，5 表示专家级工作。
2
预计时间有经验贡献者完成调查、实现、测试并准备 pull request 的粗略时间范围。
1-3 小时
活动状态议题当前的可参与程度：新鲜、活跃、陈旧、阻塞或等待维护者输入。
活跃
清晰度议题是否清楚说明期望改动、验收标准和下一步。
清晰
前置要求
Goetcd
新手友好度1-100 的估计分数，表示该议题对首次贡献者的友好程度。
75